СООБЩЕСТВО ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРОИЗВОДСТВ и ДИЗАЙНЕРОВ. 
Недавние статистические данные показывают, что затраты на тестирование комплекта микросхем после производства, для определения, какие части свободны от производственных дефектов, составляют в целом 40% к затратам на создание микросхемы.
Это обусловило создание методов в отрасли электроники, чтобы встроить тестируемость в микросхему на стадии проектирования, для снижения затрат на тестирование.
Это называется – проектирование для тестируемости (DFT) и позволяет:
- Гарантировать обнаружение всех отказов в схеме
- Уменьшить стоимость и время, связанное с разработкой тестов
- Уменьшить время выполнения тестирования произведенных микросхем
Приложение DFT Veloce ускоряет проверку DFT